InstituteSelected 0/7
    IOM, Istituto officina dei materiali (31)
    INFM, Centro di responsabilità scientifica INFM (11)
    NANO, Istituto Nanoscienze (8)
    ISM, Istituto di struttura della materia (4)
    IMM, Istituto per la microelettronica e microsistemi (1)
    IPCF, Istituto per i processi chimico-fisici (1)
    ISC, Istituto dei sistemi complessi (1)
Author

Boscherini Federico

TypeSelected 0/1
    Articolo in rivista (47)
Research programSelected 0/25
    MD.P04.007.001, Sviluppo di strumentazione e di metodologie sperimentali avanzate per lo studio delle proprieta strutturali dei materiali con raggi X da sincrotrone (13)
    MD.P06.016.003, MD.P06.016.001 Proprieta' elettroniche e strutturali di sistemi a bassa dimensionalita' (7)
    MD.P06.013.001, Nanofabbricazione e fenomeni di superficie interfaccia alla nanoscala (6)
    MD.P05.006.001, Controllo su scala atomica dei materiali per dispositivi innovativi elettronici e fotonici basati su silicio. (5)
    MD.P04.007.002, MD.P04.007.001 Sviluppo di strumentazione e di metodologie sperimentali avanzate per lo studio delle proprieta strutturali dei materiali con raggi X da sincrotrone (4)
    MD.P06.035.001, MODELING COMPUTAZIONALE DI PROPRIETAÂ’ STRUTTURALI, ELETTRONICHE E MAGNETICHE DI DIFETTI E COMPLESSI MOLECOLARI IN SEMICONDUTTORI E SISTEMI IBRIDI ORGANICO-INORGANICO. (4)
    MD.P06.018.001, Sintesi e studio delle proprieta' strutturali, ottiche ed elettroniche di sistemi aventi almeno una dimensione nanometrica (3)
    MD.P05.007.001, Materiali, processi, e tecniche analitiche per la realizzazione di dispositivi innovativi con funzionalità logiche o di memoria non volatile integrabili su Silicio (2)
    MD.P01.011.001, Strutture ad alta organizzazione gerarchica realizzate mediante approcci di tipo biologico e chimico, per lo studio e la progettazione di materiali e sistemi ibridi di interesse fotochimico (1)
    MD.P02.016.002, MD.P02.016.001 Materia soffice: diffusione elastica ed anelastica di neutroni e raggi-x (1)
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